Effect of trace tungsten on the microstructure of TiAl alloys containing Nb and B

新 TiAl 合金，包含 45 at.% 艾尔， 7 at.% Nb， x at.% W，和 0.15 at.% B (x = 0， 0.2， 0.4，和 0.7 ) 被弧融化和因而扔的落下准备。用光显微镜学，扫描电子显微镜学(SEM ) ，和电子超级探查技术，包括殖民地尺寸和薄片状的间距， TiAl 合金的微结构进化上的钨的效果被分析。蜂窝状结构和树突在当演员组 TiAl 合金被形成，这被发现，并且重金属例如铌和钨，趋于在蜂窝状结构和树突的接口强烈分离。踪迹钨能有效地阻碍谷物生长并且变窄内部薄片状的间距。0.4 at.% 钨在精制 TiAl 合金的微观结构是更有效的。