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DNS-Zr과 DNS-Hf 바이메탈 전구체를 이용한 Gate Dielectric용 ZrSiO4 및 HfSiO4 원자층 증착법에 관한 연구

김다영, 권세훈

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Abstract

차세대 CMOS 소자의 지속적인 고직접화를 위해서는 높은 gate capacitance와 낮은 gate leakage current를 확보를 위한, 적절한 metal gate electrode와 high-k dielectric 물질의 개발이 필수적으로 요구된다. 특히, gate dielectric으로 적용하기 위한 다양한 high-k dielectric 물질 후보군 중에서, 높은 dielectric con...

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차세대 CMOS 소자의 지속적인 고직접화를 위해서는 높은 gate capacitance와 낮은 gate leakage current를 확보를 위한, 적절한 metal gate electrode와 high-k dielectric 물질의 개발이 필수적으로 요구된다. 특히, gate dielectric으로 적용하기 위한 다양한 high-k dielectric 물질 후보군 중에서, 높은 dielectric con...

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Method / approach

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Main findings

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Applications

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Available abstract

차세대 CMOS 소자의 지속적인 고직접화를 위해서는 높은 gate capacitance와 낮은 gate leakage current를 확보를 위한, 적절한 metal gate electrode와 high-k dielectric 물질의 개발이 필수적으로 요구된다. 특히, gate dielectric으로 적용하기 위한 다양한 high-k dielectric 물질 후보군 중에서, 높은 dielectric con...

Key concepts: Gate dielectric, Dielectric, Capacitance, High-κ dielectric, Materials science, Gate oxide, Metal gate, Optoelectronics

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DNS-Zr과 DNS-Hf 바이메탈 전구체를 이용한 Gate Dielectric용 ZrSiO4 및 HfSiO4 원자층 증착법에 관한 연구 — Research Paper | ScholarLens