Electron microscopy of the scalp in a patient with scalp psoriasis

АКТУАЛЬНОСТЬ Строение кожи скальпа пациентов больных псориазом на электронно-микроскопическом уровне исследовано недостаточно, в основном изучена структурная организация волос. ЦЕЛЬ ИССЛЕДОВАНИЯ Выявить ультраструктурные особенности строения непораженных и пораженных участков скальпа кожи и ее придатков при псориазе с помощью метода сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), а также апробировать метод негативного контрастирования для изучения микроорганизмов непосредственно в эпидермальных чешуйках для изучения особенностей строения в трансмиссионном электронном микроскопе (ТЭМ). МАТЕРИАЛ И МЕТОДЫ Метод СЭМ использован для изучения непораженного и пораженного участков кожи скальпа больной псориазом. Для изучения микроморфологии микробиоты кожных чешуек в ТЭМ впервые применен метод контрастирования фосфорно-вольфрамовой кислотой (ФВК). РЕЗУЛЬТАТЫ Частота встречаемости волос на пораженном псориазом участке кожи была в 2 раза меньше, чем на непораженном. Для кутикулы волос пораженного участка по сравнению с непораженным характерны существенные дистрофические изменения. Для поверхности кожи пораженного участка характерно наличие многочисленных бактериальных биопленок, присутствие которых можно рассматривать в качестве индикатора ее неблагополучного состояния. Для не пораженного псориазом участка кожи характерны многочисленные кожные чешуйки, для пораженного — небольшое число кожных чешуек только в области волосяной воронки. Показана перспективность использования метода негативного контрастирования ФВК для выявления дрожжей в кожных чешуйках. ЗАКЛЮЧЕНИЕ С помощью метода СЭМ показано, что при псориазе существенные изменения происходят в строении поверхностного слоя кожи и ее придатков.