Vladimir E. Panchuk, Valentina G. Klochkova, M. V. Yushkin, Mikhail E. Sachkov, E. S. Kulagin, D. V. Marchenko
Abstract
Рассматривается проблема экономичных измерений профилей линий и доплеровских смещений. Обсуждаются различные пути повышения эффективности спектроскопии высокого и сверхвысокого разрешения.
A significance statement is not available in the OpenAlex record.
A contribution statement is not available in the OpenAlex record.
Method details are not available in the OpenAlex metadata.
Findings are not separately available in the OpenAlex metadata.
Limitations are not available in the OpenAlex metadata.
Application details are not available in the OpenAlex metadata.
Рассматривается проблема экономичных измерений профилей линий и доплеровских смещений. Обсуждаются различные пути повышения эффективности спектроскопии высокого и сверхвысокого разрешения.
Key concepts: Doppler effect, Line (geometry), Doppler broadening, Physics, Spectral line, Chemistry, Astrophysics, Mathematics