2013•The Journal of the Geological Society of JapanOpen access
Dating of active fault gouge using optical stimulated luminescence and thermoluminescence
Yoshihiro Ganzawa, Chikashi Takahashi, Kazumasa Miura, Satoshi Shimizu
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Abstract
跡津川断層の断層ガウジから分離した石英を用いて，OSL法とUV-TL法を利用した断層年代測定を試みた．まず，300°Cでのアニール実験からOSLのFC（速成分）とTLのシグナル消失条件を検討したところ，OSLでは300°C，20秒で，UV-TL270°C領域では300°C，12～30秒で消失した．トラップ寿命（τ）の評価でも，同様な結果が得られた．LM-OSLから測定石英は速成分に卓越するF型とそうでないdim-F型に区分された．ドーズリカバリーテストからF型の線量復元能力が高いことが示され，これをOSL年代測定に用いた．80アリコットから得られた単純平均年代は0.2±0.2 kaであった．跡津川断層に起因する飛越地震の時代は1858年であり，OSL年代はこの年代と標準偏差誤差内で重なる．
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