Characterization of amorphous Sb-Bi-Te thin films as a function of Bi concentration
이재형, D. Mangalaraj, 이준신
Abstract
이재형, D. Mangalaraj, 이준신
Abstract
진공 증착한 Sb_(2-x)Bi_xTe₃ 박막은 Bi 농도에 관계없이 비정질 형태로 성장되었고, XPS 분석 결과 증착 물질과 거의 유사한 조성을 가짐을 알 수 있었다. 또한 박막의 광학적, 전기적 특성을 설명하기 위해 여러 미세구조 파라미터들을 계산하였다. 한편, 박막 내 Bi 농도가 증가함에 따라 전기 비저항은 급격히 감소하였고, 특히 높은 Bi농도(x=1.0)에서는 전도 특성이 p-type에서 n-type으로 변화되었다. 또한 Sb_(2-x)Bi_xTe₃ 박막의 굴절 지수 및 광학적 밴드 갭은 Bi 농도에 따라 증가하였다.
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진공 증착한 Sb_(2-x)Bi_xTe₃ 박막은 Bi 농도에 관계없이 비정질 형태로 성장되었고, XPS 분석 결과 증착 물질과 거의 유사한 조성을 가짐을 알 수 있었다. 또한 박막의 광학적, 전기적 특성을 설명하기 위해 여러 미세구조 파라미터들을 계산하였다. 한편, 박막 내 Bi 농도가 증가함에 따라 전기 비저항은 급격히 감소하였고, 특히 높은 Bi농도(x=1.0)에서는 전도 특성이 p-type에서 n-type으로 변화되었다. 또한 Sb_(2-x)Bi_xTe₃ 박막의 굴절 지수 및 광학적 밴드 갭은 Bi 농도에 따라 증가하였다.
Key concepts: X-ray photoelectron spectroscopy, Characterization (materials science), Amorphous solid, Thin film, Analytical Chemistry (journal), Materials science, Chemistry, Crystallography